無(wú)源器件測(cè)試平臺(tái)

簡(jiǎn)要描述：性能強(qiáng)大的無(wú)源光器件測(cè)試平臺(tái)，適用于測(cè)試WDM器件和光子集成電路

產(chǎn)品型號(hào)： CTP10

所屬分類(lèi)：光無(wú)源器件

更新時(shí)間：2024-12-16

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高效地測(cè)試全天候運(yùn)行的無(wú)源光器件。以非常高的動(dòng)態(tài)范圍、速度與分辨率測(cè)量插損
（IL）、回?fù)p（RL）或偏振相關(guān)損耗（PDL）

迅速對(duì)IL、RL或PDL進(jìn)行波長(zhǎng)掃描測(cè)量
采用*電子技術(shù)，只需一次掃描便可以實(shí)現(xiàn)整個(gè)動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的IL鑒定，是測(cè)試頻譜對(duì)比度高的器件的理想工具

配備強(qiáng)大、直觀的圖形用戶(hù)界面（GUI），便于配置測(cè)試和分析測(cè)量結(jié)果
支持全波段IL、RL和PDL測(cè)量，覆蓋從1240 nm到1680 nm的波長(zhǎng)
提供激光器共享功能，在多8個(gè)測(cè)試臺(tái)間共享一個(gè)或多個(gè)激光器

CTP10是一種模塊化測(cè)量平臺(tái)，可高效地測(cè)試全天候運(yùn)行的無(wú)源器件。該平臺(tái)可直接控制一臺(tái)或多臺(tái)T100S-HP激光器，在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率頻譜鑒定。一臺(tái)CTP10可為IL、RL或PDL測(cè)量提供波長(zhǎng)掃描、數(shù)據(jù)收集與處理、以及曲線(xiàn)顯示與分析功能，從而成為一款非常誘人、易于使用的無(wú)源器件測(cè)試解決方案。它能夠以高達(dá)80 dB的動(dòng)態(tài)范圍、非常高的速度與分辨率，通過(guò)一次掃描便完成插損測(cè)量。該平臺(tái)可連接多達(dá)50個(gè)檢測(cè)器，成為測(cè)試DWDM網(wǎng)中所用大端口數(shù)器件以及光子集成電（PIC）
的理想儀表。它運(yùn)行功能強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理電子技術(shù)，從而幾乎消除了由數(shù)據(jù)傳輸而導(dǎo)致的任何停機(jī)時(shí)間。它還配備一個(gè)大容量?jī)?nèi)置硬盤(pán)，用于直接存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和通過(guò)兼容SCPI的命令進(jìn)行全遠(yuǎn)程控制。